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14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515

14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515

簡要描述:
激光光斑光束質量分析儀BLC1515經過內部光學系統,將其傳輸到14.3 * 14.3 mm CMOS大靶面,可測試光束波長范圍為300-1100nm,待測聚焦光斑直徑從最小35 μm到 14.3mm。14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515

更新時間:2024-10-12

訪問量:295

廠商性質:生產廠家

生產地址:深圳

一、產品介紹

激光光斑光束質量分析儀BLC1515經過內部光學系統,將其傳輸到14.3 * 14.3 mm CMOS大靶面,可測試光束波長范圍為300-1100nm,待測聚焦光斑直徑從最小35 μm到 14.3mm。

通過軟件軟件可以顯示光斑橫截面的二維或者三維強度分布擬合圖,同時可以顯示光斑的兩維方向的尺寸、橢圓度、相對位置、強度等量化數據等其它功能。

二、產品規格

型號BLC1515
波長300-1100nm
感光面積14.3x14.3mm
可測光斑35μm-14.3mm
像素3.5um
分辨率4096x4096
位深度12bit
幀數5
曝光時間20μs - 500ms
增益0 - 36 dB
觸發軟觸發/硬觸發可選
飽和強度40u W/cm2@ 633nm
600puW/cm2@1064nm
靈敏度0.3nw/cm2
工作溫度0-50°C
尺寸29x29x45mm
工作模式全局快門
接口USB3.0
類型CMOS

三、公司介紹

深圳市博納德自主研發的光斑分析儀是基于高分辨率 CCD和CMOS面陣型光斑測量儀是一款能夠實時測量連續或脈沖激光束的實時診斷系統。產品波長范圍覆蓋266 ~17O0mm,像素最小達到2.5*2.5u m,探測器面積最大可達25*25mmLaserCheck 系列光斑分析儀不僅能實時顯示激光2D/3D圖像,導出光強分布數據,且提供激光束參數實時演示和分析能力,具體測量的參數包括:光束直徑、光斑的形狀、位置、功率、強度分布、橢圓度等眾多參數,同時還提供了報表功能,記錄光束分析設置和可實現激光光斑質量檢測、光斑大小、光斑點穩定性、一維、二維、三維能量分布等多參數測量,純中文操作界面,直觀友好,功能非常強大。

14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515

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